【產(chǎn)通社，11月17日訊】日本電子株式會社（JEOL Ltd.；TOKYO股票代碼：6951）官網(wǎng)消息，其開發(fā)并推出新型掃描電子顯微鏡（SEM）——JSM-IT510系列。掃描電子顯微鏡被廣泛用于納米技術(shù)、金屬、半導(dǎo)體、陶瓷、醫(yī)學(xué)和生物學(xué)等各種領(lǐng)域。此外，SEM的應(yīng)用范圍正在不斷擴(kuò)大，不僅涉及基礎(chǔ)研究，還涵蓋制造現(xiàn)場的質(zhì)量控制。因此，對更快、更輕松地獲取SEM圖像和分析結(jié)果數(shù)據(jù)的需求有所增加，例如能量色散X射線光譜（EDS）。


產(chǎn)品特點


為了滿足這些需求并提高產(chǎn)量，我們開發(fā)出JSM-IT510系列，該系列進(jìn)一步提升了我們備受青睞的InTouchScope的可操作性。借助新增的Simple SEM（簡便SEM）功能，您現(xiàn)在可以將日常工作（重復(fù)性操作）“交給”儀器。
- 新型“Simple SEM”功能。Simple SEM功能使用戶能夠方便地選擇SEM圖像的采集條件和視場角，然后自動采集SEM圖像。日常工作可以更高效地完成。
- 新型“低真空混合二次電子探測器（LHSED）”。這種新型探測器可收集電子和光子信號，即使在低真空條件下也能提供具有高信噪比和增強地形信息的圖像。
- 集成掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散X射線光譜儀（EDS）系統(tǒng)。SEM和EDS的集成得到了進(jìn)一步發(fā)展，Live Map（實時地圖）功能可以實時顯示觀測視場角的元素分布圖。
- 新的“實時3D”功能。當(dāng)進(jìn)行SEM觀察以獲得非均勻性和深度信息時，可以現(xiàn)場構(gòu)建3D圖像。
- 實時分析功能。嵌入式EDS系統(tǒng)可在圖像觀測期間顯示實時EDS光譜，以實現(xiàn)高效的元素分析。
- 新的階段導(dǎo)航系統(tǒng)LS功能。新的階段導(dǎo)航系統(tǒng)LS可以獲得四倍于傳統(tǒng)型號（200 x 200mm）的區(qū)域光學(xué)圖像。該功能使用戶能夠獲取觀測樣本的光學(xué)圖像，并通過簡單點擊光學(xué)圖像移動到所需的觀測區(qū)域。
- Zeromag，使用我們的Zeromag功能，樣本導(dǎo)航比以往任何時候都更簡單。您可以使用光學(xué)圖像或支架圖形定位成像區(qū)域或指定多個視場角上的分析位置。
- 顯示特征X射線生成深度。有助于快速了解樣本的分析深度（參考）。
- SMILE VIEW實驗室，能夠?qū)D像和分析數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合管理。便于在短時間內(nèi)生成從收集的SEM圖像到元素分析結(jié)果的所有數(shù)據(jù)報告。


供貨與報價


目標(biāo)銷量為200臺/年。查詢進(jìn)一步信息，請訪問官方網(wǎng)站http://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-IT510.html。（張怡，產(chǎn)通發(fā)布）     （完）